fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiya

PPTX 12 стр. 81,4 КБ Бесплатная загрузка

12 стр.

FaylHub.uz

Скачать через Telegram

Размер 81,4 КБ

Тип файла PPTX

Страницы 12

Обновлено Дек 2025

Предварительный просмотр (5 стр.)

Прокрутите вниз 👇

1 / 12

powerpoint presentation fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiya muhammadiyeva norxoloy 1. rentgen fotoelektron spektroskopiyasi (xps) va uning qo'llanilishi 2. fotoelektron va rentgen fotoelektron spektroskopiyasiga kirish 3. fotoelektron spektroskopiyasi (pes)ning asosiy tamoyillari reja: fes va rfs ning asosiy printsiplari rfs esa, 1000-10000 ev dan yuqori energiyali rentgen nurlarini ishlatadi va bundan chuqurroq (10 nm dan ortiq) qatlamlardan fotoelektronlarni chiqarishi mumkin, natijada namunadagi elementlarning konsentratsiyasi haqida ma'lumot beradi. fes va rfs usullari yordamida olingan ma'lumotlarni tahlil qilish uchun stockholmda joylashgan kompyuter dasturlari va ma'lumotlar bazalari keng qo'llaniladi, bu esa elementlarning kimyoviy holatini aniqlashga yordam beradi. fesda, 10-1000 ev energiyali elektronlar namunaga nurlantirib, sirt atom qatlamlaridan (taxminan 1-10 nm chuqurlikdan) fotoelektronlarni chiqaradi, bu esa materialning kimyoviy tarkibini aniqlashga imkon beradi. fotoelektron spektroskopiyasi (fes) ga kirish o'zbekistonning toshkent shahridagi ilmiy-tadqiqot institutlarida fes usuli yarim o'tkazgichlar va metallarning sirt xossalarini o'rganishda keng qo'llanilmoqda, natijalar 10 dan ortiq ilmiy maqolalarda chop etilgan. fotoelektron spektroskopiyasi (fes) yordamida 10⁻⁸ mbar …

2 / 12

ordamida 100-1500 эв oralig'ida energiya darajalarini aniqlab, turli elementlarning kimyoviy muhitini, masalan, silikon dioksid (sio2) ning tarkibini, texas universitetida o'tkazilgan tadqiqotlarga ko'ra, aniqlash mumkin. fes va rfs usullari yordamida olingan spektrlarni taqqoslash orqali, masalan, 2p va 3d elektron qobiqlarining energiya darajalari farqini tahlil qilib, materialning elektron tuzilishi va kimyoviy bog'lanish xususiyatlarini, masalan, germaniyada ishlab chiqarilgan yarimo'tkazgichlardagi atomlararo masofani aniqlash mumkin. fes va rfs da namunalarni tayyorlash o'zbekiston fanlar akademiyasi fizika-texnika institutida o'tkazilgan tadqiqotlarda ko'rsatilganidek, silikatli namunalarni fes va rfs tahlillariga tayyorlashda, namunalarni 450°c da 2 soat davomida vakuumda qizdirish samarali bo'ldi. fes va rfs da namunalarni tayyorlash jarayoni yuqori vakuum sharoitida (10⁻⁷-10⁻¹⁰ pa) amalga oshiriladi va namunalar sirtini 10 nm gacha tozalashni talab qiladi, bu esa ion nurlari yordamida, masalan, argon ionlari bilan tozalash orqali amalga oshiriladi. namuna tayyorlashda kimyoviy tozalash usullari ham qo‘llaniladi, masalan, 5% li hno₃ eritmasida 10 daqiqa davomida tozalash, keyin esa yuvib, quritish orqali. bunday usullar …

3 / 12

konini beradi, shuning uchun chuqurroq tahlil uchun qoʻllaniladi, masalan, moskva davlat universitetida. fes va rfs dan olingan ma'lumotlarni talqin qilish fes va rfs spektroskopiyasida 100-1000 ev energiyali fotoelektronlarning bog'lanish energiyasi o'lchovlaridan kimyoviy elementlarning oksidlanish darajasi va ularning lokal muhitini aniqlash mumkin, masalan, germaniyada o'tkazilgan tadqiqotlarda ko'rsatilganidek. fes va rfs ma'lumotlarini birgalikda tahlil qilish, sirt va hajm o'rtasidagi farqlarni aniqlashga imkon beradi, bu esa, masalan, 50 nm qalinlikdagi qatlamli strukturaga ega bo'lgan rossiyada ishlab chiqarilgan metallurgiya namunalarini o'rganishda qo'llaniladi. rfs spektroskopiyasi yordamida olingan yuqori energiyali (10 kev dan yuqori) fotoelektronlar spektrlari yordamida, materiallar sirtining 10 nm chuqurligigacha bo'lgan tarkibiy tahlil qilish mumkin, masalan, yaponiyada ishlab chiqarilgan namunalarda isbotlangan. fes va rfs ning afzalliklari va kamchiliklari rfs esa, past energiyali rentgen nurlaridan (1 kev dan past) foydalanib, tahlil chuqurligini oshiradi (bir necha nanometrgacha), lekin sezgirligi fesga nisbatan pastroq bo'ladi, shuning uchun katta konsentratsiyali elementlarni tahlil qilish uchun yaxshiroqdir, masalan, germaniyada ishlab chiqarilgan …

4 / 12

h imkonini beradi, bu esa kimyoviy reaksiyalar mexanizmlarini 3-5 angstrem aniqlikda modellashtirishga yordam beradi. fes, 10-100 ev energiyali elektronlar nurini qo'llagan holda, yuzaki 1-10 nm chuqurlikdagi tarkibiy tahlilni amalga oshiradi va shu sababli, yarimo'tkazgichlar va metallarning sirt xossalarini o'rganishda, masalan, kaliforniya universitetida keng qo'llaniladi. rfs, 1000 ev dan yuqori energiyali rentgen nurlaridan foydalanib, materiallarning 1-10 nm chuqurlikdagi kimyoviy tarkibini aniqlaydi va bu usul, rossiya fanlar akademiyasi kabi institutlarda, katalitik materiallarni tadqiq qilishda keng qo'llaniladi. rentgen fotoelektron spektroskopiyasi (rfs) ga kirish rfs spektri yordamida elementlarning bog'lanish energiyalarini 0.1 ev aniqlikda aniqlash mumkin, bu esa kimyoviy birikmalarning tuzilishini va elektron holatini batafsil o'rganishga imkon beradi, masalan, germaniyadagi tadqiqotlar shuni ko'rsatdi. rfs texnikasi 1960-yillarning boshlarida ishlab chiqilgan va hozirgi kunda dunyo bo'ylab 1000 dan ortiq laboratoriyalarda qo'llaniladi, yuqori aniqlikdagi sirt tahlili uchun muhim vosita hisoblanadi. rentgen fotoelektron spektroskopiyasi (rfs) yordamida moddaning sirt qatlamidagi 1-10 nm chuqurlikdagi elementlarning tarkibi va kimyoviy holatini aniqlash mumkin, …

5 / 12

fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiya - Page 5

Хотите читать дальше?

Скачайте все 12 страниц бесплатно через Telegram.

Скачать полный файл

О "fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiya"

powerpoint presentation fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiya muhammadiyeva norxoloy 1. rentgen fotoelektron spektroskopiyasi (xps) va uning qo'llanilishi 2. fotoelektron va rentgen fotoelektron spektroskopiyasiga kirish 3. fotoelektron spektroskopiyasi (pes)ning asosiy tamoyillari reja: fes va rfs ning asosiy printsiplari rfs esa, 1000-10000 ev dan yuqori energiyali rentgen nurlarini ishlatadi va bundan chuqurroq (10 nm dan ortiq) qatlamlardan fotoelektronlarni chiqarishi mumkin, natijada namunadagi elementlarning konsentratsiyasi haqida ma'lumot beradi. fes va rfs usullari yordamida olingan ma'lumotlarni tahlil qilish uchun stockholmda joylashgan kompyuter dasturlari va ma'lumotlar bazalari keng qo'llaniladi, bu esa elementlarning kimyoviy holatini aniqlashga yordam beradi. fes...

Этот файл содержит 12 стр. в формате PPTX (81,4 КБ). Чтобы скачать "fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiya", нажмите кнопку Telegram слева.

Теги: fotoelektron va rentgenoelektro… PPTX 12 стр. Бесплатная загрузка Telegram