mexanik va iqlimiy yuklamalarga nisbatan svetoizluchayushchikh diodlarning ishonchliligini o‘rganish

DOCX 11 стр. 41,8 КБ Бесплатная загрузка

Предварительный просмотр (5 стр.)

Прокрутите вниз 👇
1 / 11
исследование надежностью светоизлучающих диодов к воздействию механических и климатических нагрузок н.р. рахимов, б.э. тураев, м.н. рахимова уфимского государственного нефтяного технического университет аннотация. в данной работе рассмотрена светоизлучающих диодов к воздействие механических и климатических нагрузок. типичная зависимость интенсивности отказов оэп от времени. излучение распространяется главным образом в ограничивающем слое, который благодаря большой ширине запрещенной зоны имеет небольшие потери на поглощение. ключевые слова: светоизлучающий диод (сид), преобразователь, оптоэлектронные элемент преобразователь (оэп), суперлюминесцентные диод (слд). надежностью называется свойство объекта выполнять заданные функции, сохраняя во времени значения установленных эксплуатационных показателей в заданных пределах, соответствующих заданным режимам и условиям использования. количественно надежность выражается вероятностными функциями. функция надежности (вероятность безотказной работы) r(t) является вероятностью того, что в заданных условиях эксплуатации (или испытаний) к моменту времени t не возникнет отказ. величин q(t)=l - r(t) называется функцией совокупных отказов и соответствует вероятности возникновения отказа в тех же условиях моменту времени t. интенсивностью отказов называется вероятность отказа прибора d …
2 / 11
работоспособности приборами, которые имеют значительные скрытые технологические дефекты. такие приборы, как правило, выявляются (отбраковываются) в процессе технологических испытаний (тренировок) и не поступают к потребителю [1-8]. на участке бв интенсивность отказов практически постоянна и может быть описана экспоненциальным распределением отказов во времени, для которого вероятностные функции имеют вид: я(t) = ехр (- λt); (2) q (t) = 1 - ехр (- λt); λ(t) = λ = const. (3) интенсивность отказов в данном случае не изменяется в процессе наработки и вычисляется по формуле λ = d/tς, где d - полученное число отказов; tς = суммарная наработка изделий; ti - время наработки i - год изделия; n - число наблюдаемы изделий. если число отказов равно нулю, интенсивность отказов λ =0,69/тς. на участке, лежащем правее точки в, интенсивность отказов возрастает вследствие процессов износа и старения материалов. этот участок характерен для оэп, в которых имеет место деградация параметров. зависимость интенсивности отказов на этом участке, являющемся …
3 / 11
рованных испытаний и статистическое прогнозирование с использованием моделей деградации параметров. прогнозирование по результатам форсированных испытаний основано на изменении м процессе испытания параметра х приборов, связанного с физико-химическими процессами, протекающими в приборах и вызывающими их отказ. параметр х является случайной величиной и изменяется в зависимости от времени и нагрузки на прибор. поэтому распределение отказов (времени безотказной работы) также связано с режимом эксплуатации прибора. однако закон распределения при этом сохраняется для различных нагрузок. изменяются только характеристики закона, которые являются инвариантами по отношению к режимам испытаний, и при этом коэффициент ускорения к может быть найден через характеристики закона распределения. если время безотказной работы изделия подчиняется логарифмически нормальному распределению для нагрузки εi f[x(ε1)t] = ф[(lnt – m1)/σ1), (4) 0 t1 t2 t t λ(t) a б в рисунок 1 - типичная зависимость интенсивности отказов оэп от времени где ф (и) - функция лапласа; m, σ - характеристики распределения, то для нагрузки ε 2 (5) …
4 / 11
й развития деградации параметров от времени и от нагрузки отказы разделяют на два вида: частичные и полные. частичные характеризуются изменением хотя бы одного параметра и выходом его значения -за установленные границы (или нормы). как правило, такие границы служат для контроля качества и надежности приборов при изготовлении, приемке и поставке потребителю. полные отказы характеризуются потерей свойств прибора по какому-либо одному или нескольких параметрам - критериям отказа. поведение любого параметра х при можно описывать непрерывной функцией x(t), возрастающей или убываю щей. условиями непрерывности и монотонности функции x(t) в этом случае являются: для ограничения х сверху dx(t)/dt ≥ 0, x(t) - x(t + ∆t) ≤ 0, (9) для ограничения х снизу dx(t)/dt ≤ 0, x(t) - x(t + ∆t) ≥ 0. (10) учитывая выражения (9) и (10), условие частичного отказ можно определить как выход значения x(t) за некоторые границы хв (нижнюю) и хв (верхнюю): (11) где t0 - время наступления отказа. из уравнения …
5 / 11
ются экспоненциальным распределением. учитывая, что физические процессы, приводящие к полным и частичным отказам, определенным в виде (11) и (12), как правило, независимы, вероятность безотказной работы можно записать как произведение двух вероятностей: r(t) = rп(t) rч(t) = e-λt rч(t), (14) где rп(t) и rч(t) - вероятности по полным и частичным отказам соответственно. из выражения (14) видно, что для восстановления закона распределения r(t) достаточно знать закон распределения rч(t). для восстановления функции распределения r4(t) воспользуемся тем, что изменение параметров, по которым регистрируется частичный отказ, во времени может быть описано некоторой функцией вида x = ω(t). существует обратное преобразование t = η(x). в данном случае под технологической общностью понимается сходство технологии изготовления, материала кристалла, материала контактов, способа соединения токоведущих элементов, защиты р – n - перехода. в этом случае между начальным распределением параметра х (при t = 0) и функцией плотности вероятности распределения наработки до отказа существует связь в виде f(t)=f[x(t)]dx(t)/dt. (15) анализ уравнения …

Хотите читать дальше?

Скачайте все 11 страниц бесплатно через Telegram.

Скачать полный файл

О "mexanik va iqlimiy yuklamalarga nisbatan svetoizluchayushchikh diodlarning ishonchliligini o‘rganish"

исследование надежностью светоизлучающих диодов к воздействию механических и климатических нагрузок н.р. рахимов, б.э. тураев, м.н. рахимова уфимского государственного нефтяного технического университет аннотация. в данной работе рассмотрена светоизлучающих диодов к воздействие механических и климатических нагрузок. типичная зависимость интенсивности отказов оэп от времени. излучение распространяется главным образом в ограничивающем слое, который благодаря большой ширине запрещенной зоны имеет небольшие потери на поглощение. ключевые слова: светоизлучающий диод (сид), преобразователь, оптоэлектронные элемент преобразователь (оэп), суперлюминесцентные диод (слд). надежностью называется свойство объекта выполнять заданные функции, сохраняя во времени значения установленных эксплуатационных п...

Этот файл содержит 11 стр. в формате DOCX (41,8 КБ). Чтобы скачать "mexanik va iqlimiy yuklamalarga nisbatan svetoizluchayushchikh diodlarning ishonchliligini o‘rganish", нажмите кнопку Telegram слева.

Теги: mexanik va iqlimiy yuklamalarga… DOCX 11 стр. Бесплатная загрузка Telegram