fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiyasi

PPTX 12 стр. 196,8 КБ Бесплатная загрузка

12 стр.

FaylHub.uz

Скачать через Telegram

Размер 196,8 КБ

Тип файла PPTX

Страницы 12

Обновлено Дек 2025

Предварительный просмотр (5 стр.)

Прокрутите вниз 👇

1 / 12

powerpoint presentation fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiyasi zuhra 1. asboblar va texnikalar 2. fotoelektron va rentgen fotoelektron spektroskopiyasiga kirish 3. qo'llanmalar va tatbiqlar reja: fes va rfs ning asosiy printsiplari fes, yuqori sirt sezgirligi tufayli, yuzaki reaksiyalarni o'rganishda, masalan, 10 nm dan yupqa qatlamlarni tahlil qilishda, stanford universiteti olimlari tomonidan keng qo'llaniladi. fesda, 10 -9 torr bosimli vakuumda, 1-100 ev energiyali elektronlar namunaga yo'naltiriladi va chiqarilgan fotoelektronlar energiyasi o'lchanadi, bu kimyoviy bog'lanishlar haqida ma'lumot beradi. rfs esa, 1486.6 ev energiyali al kα rentgen nurlanishidan foydalanadi va namuna yuzasidan 0-10 nm chuqurlikdagi elementlarning tarkibini aniqlaydi. fes va rfs ning qo'llanilishi fes va rfs usullari birgalikda qo'llanilganda, masalan, 200 dan ortiq elementni aniqlash va kimyoviy bog'lanishlarni tahlil qilish imkonini beradi, bu esa, samarqanddagi arxeologik tadqiqotlarda yordam beradi. rfs, 1 kev dan yuqori energiyali rentgen nurlaridan foydalangan holda, materiallarning chuqurroq qatlamlarini (10 nm dan ortiq) tahlil qilishga imkon beradi, bu esa neft kimyosi zavodlarida, …

2 / 12

таҳлил қилишда фотоэлектрон спектроскопияси (фэс) 10-100 эв энергияли фотоэлектронларнинг чиқишини ўлчайди, бу эса модданинг юзавий қисмидаги кимёвий боғланиш ҳолатини аниқлашга имкон беради, масалан, ўзбекистондаги материалларни тадқиқ қилишда. yuzaki sezgirlik va chuqurlik profillari chuqurlik profillari ar ionlari nurlanishi yordamida olib boriladi va taxminan 10 nm dan 100 nm gacha chuqurlikka ega boʻlgan qatlamli tuzilmalarni tahlil qilish imkonini beradi. 20 kev energiyali ar ionlari nurlanishidan foydalanib, materialning chuqurlikdagi kimyoviy tarkibining oʻzgarishini 1 nm qadam bilan oʻlchash mumkin, bu esa samarqanddagi yarimoʻtkazgichlarni tekshirishda muhim ahamiyatga ega. yuzaki sezgirligi taxminan 1-10 nm oraligʻida boʻlib, bu xps yordamida sirt kimyoviy tarkibini aniqlashga imkon beradi, masalan, toshkentdagi materiallarni oʻrganishda. fes va rfs ning cheklovlari fes yuqori energiyali elektronlar nuri tufayli, masalan, 1 kv energiyali elektronlar ishlatilganda, analiz qilinadigan hududning kichik bir qismi (bir necha mikrometr) tekshiriladi, bu esa yuqori aniqlikdagi tahlilni ta'minlaydi. fesda 10 -9 torr bosim oralig'ida yuqori energiyali elektronlar nurining ishlatilishi namunalar yuzasining 1-10 …

3 / 12

zonida joylashgan xarakterli chiziqlarni o'z ichiga oladi, bu esa elementlarni aniqlashga va miqdorini aniqlashga yordam beradi. fes yordamida elementlarning kimyoviy holatini, valent bog'lanishlarini va sirt tarkibini aniqlash mumkin; masalan, toshkentdagi materiallarni o'rganish markazida bu usul keng qo'llaniladi. rentgen fotoelektron spektroskopiyasi (rfs) ga kirish rentgen fotoelektron spektroskopiyasi (rfs) yordamida moddalarning sirt qatlamidagi 1-10 nm chuqurlikdagi kimyoviy tarkibini aniqlash mumkin, bu esa materialshunoslikda, xususan, mikroelektronika sanoatida, masalan, singapurdagi laboratoriyalarda keng qo‘llaniladi. rfs analizida olingan spektrlarni tahlil qilish uchun maxsus dasturiy ta'minotlardan, jumladan, 50 dan ortiq turdagi ma'lumotlar bazasiga ega bo'lganlaridan foydalaniladi va bu natijalarni germaniyadagi tadqiqot markazlarida ham tasdiqlash mumkin. rfs texnikasi 1 kev dan yuqori energiyali rentgen nurlanishidan foydalanadi va elementlarning bog'lanish energiyalarini aniqlash orqali, masalan, 1000 ga yaqin turdagi materialning tarkibini tahlil qilish imkonini beradi. fes va rfs ning asboblari rfs apparatlari fesga qaraganda kattaroq va murakkabroq, chunki yuqori energiyali rentgen nurlanish manbalari va yuqori aniqlikdagi detektorlari kerak bo'ladi, masalan, …

4 / 12

ntlarni 0.1% gacha aniqlikda aniqlash mumkin, bu esa toshkentdagi materiallarni o'rganish laboratoriyalarida keng qo'llaniladi. kimyoviy bog'lanish energiyasi o'zgarishlarini aniqlash uchun x-ray photoelectron spectroscopy (xps) samarqanddagi olimlar tomonidan 50 dan ortiq organik birikmalarni tahlil qilishda qo'llanilgan va natijalar yuqori aniqlik bilan olingan. fotoelektron spektroskopiyasi (pes) yordamida 10⁻⁸ mbar bosimdagi vakuum sharoitida sirt qatlami tarkibini 1-10 nm chuqurlikda o'rganish mumkin, bu esa materialning sirt xususiyatlarini aniqlashga imkon beradi. e'tiboringiz uchun rahmat @taqdimot_robot image1.png

5 / 12

fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiyasi - Page 5

Хотите читать дальше?

Скачайте все 12 страниц бесплатно через Telegram.

Скачать полный файл

О "fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiyasi"

powerpoint presentation fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiyasi zuhra 1. asboblar va texnikalar 2. fotoelektron va rentgen fotoelektron spektroskopiyasiga kirish 3. qo'llanmalar va tatbiqlar reja: fes va rfs ning asosiy printsiplari fes, yuqori sirt sezgirligi tufayli, yuzaki reaksiyalarni o'rganishda, masalan, 10 nm dan yupqa qatlamlarni tahlil qilishda, stanford universiteti olimlari tomonidan keng qo'llaniladi. fesda, 10 -9 torr bosimli vakuumda, 1-100 ev energiyali elektronlar namunaga yo'naltiriladi va chiqarilgan fotoelektronlar energiyasi o'lchanadi, bu kimyoviy bog'lanishlar haqida ma'lumot beradi. rfs esa, 1486.6 ev energiyali al kα rentgen nurlanishidan foydalanadi va namuna yuzasidan 0-10 nm chuqurlikdagi elementlarning tarkibini aniqlaydi. fes va rfs ning qo'llanilish...

Этот файл содержит 12 стр. в формате PPTX (196,8 КБ). Чтобы скачать "fotoelektron va rentgenoelektron spektroskopiyasi", нажмите кнопку Telegram слева.

Теги: fotoelektron va rentgenoelektro… PPTX 12 стр. Бесплатная загрузка Telegram